PROTEC指針型張力計(jì)STG-80NA STG-80D

產(chǎn)品規(guī)格： STG-80D為數(shù)顯式張力計(jì)

測(cè)量范圍：  STG-80系列為7-50N/cm 0.01-0.03mm
產(chǎn)品詳細(xì)描述：
特長(zhǎng)：

作為制版照張力的目標(biāo)值測(cè)定、本公司采用了比當(dāng)今的發(fā)條式（以前是牛頓計(jì)量?jī)x），更易維持精度的、根據(jù)加重下降式的手法。
zui近在ISO的數(shù)據(jù)管理上，通過(guò)牛頓單位的張力的測(cè)量也可以獲得
為了滿(mǎn)足特殊要求，一個(gè)指針在標(biāo)示的外側(cè)尺上有毫米刻度標(biāo)尺，內(nèi)側(cè)配有牛頓刻度標(biāo)尺，可以同時(shí)讀取各自的數(shù)值。
在維持毫米讀取的精度的同時(shí)，還敬請(qǐng)?bào)w會(huì)能把握管理方面的牛頓單位的便利性

PROTEC指針型張力計(jì)STG-80NA STG-80D

簡(jiǎn)單介紹

日本張力計(jì)STG-75M指針式.STG-75D數(shù)顯式張力計(jì)作為制版照張力的目標(biāo)值測(cè)定、本公司采用了比當(dāng)今的發(fā)條式（以前是牛頓計(jì)量?jī)x），根據(jù)加重下降式的手法，更易維持精度。

日本張力計(jì)STG-75M的詳細(xì)介紹

產(chǎn)品規(guī)格：日本張力計(jì)STG-75M

日本張力計(jì)STG-75M產(chǎn)品詳細(xì)描述：
日本張力計(jì)STG-75M特長(zhǎng)：

日本張力計(jì)STG-75M作為制版照張力的目標(biāo)值測(cè)定、本公司采用了比當(dāng)今的發(fā)[條式（以前是牛頓計(jì)量?jī)x）]，更易維持精度的、根據(jù)[加重下降式]的手法。
zui近在ISO的數(shù)據(jù)管理上，通過(guò)牛頓單位的張力的測(cè)量也可以獲得
為了滿(mǎn)足特殊要求，一個(gè)指針在標(biāo)示的外側(cè)尺上有[毫米刻度標(biāo)尺]，內(nèi)側(cè)配有[牛頓刻度標(biāo)尺]，可以同時(shí)讀取各自的數(shù)值。
在維持毫米讀取的精度的同時(shí)，還敬請(qǐng)?bào)w會(huì)能把握管理方面的牛頓單位的便利性。
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產(chǎn)品詳細(xì)描述：
   作為制版照張力的目標(biāo)值測(cè)定、本公司采用了比當(dāng)今的發(fā)條式（以前是牛頓計(jì)量?jī)x），根據(jù)加重下降式的手法，更易維持精度。
   zui近在ISO的數(shù)據(jù)管理上，通過(guò)牛頓單位的張力的測(cè)量也可以獲得
   為了滿(mǎn)足特殊要求，一個(gè)指針在標(biāo)示的外側(cè)尺上有毫米刻度標(biāo)尺，內(nèi)側(cè)配有牛頓刻度標(biāo)尺，可以同時(shí)讀取各自的數(shù)值。
   在維持毫米讀取的精度的同時(shí)，還敬請(qǐng)?bào)w會(huì)能把握管理方面的牛頓單位的便利性。
產(chǎn)品特性區(qū)分：
   1.NA型(STG-75M,STG-80NA)是指針型，
   2.D型(STG-75D,STG-80D)是數(shù)字顯示型。
   3.75型(STG-75M,STG-75D)體型較重，所以更有感度，有精度。
   4.80型(STG-80NA,STG-80D)體型較輕。
   聚脂網(wǎng)版和不銹鋼網(wǎng)版都可以使用,我們zui推薦75型。
 
   STG-75M 1272g
   STG-75D 1280g
   STG-80NA 442g
   STG-80D 450g
   

張力計(jì)測(cè)量范圍的說(shuō)明:
   指針型STG-75M的刻度表盤(pán)上的推薦測(cè)量范圍是0～3mm，17～40N。
   指針型STG-80NA的刻度表盤(pán)上的推薦測(cè)量范圍是0～3mm，7～50N。
   數(shù)字顯示型STG-75D的推薦測(cè)量范圍是0～3mm。
   數(shù)字顯示型STG-80D的推薦測(cè)量范圍是0～3mm。
   關(guān)于指針型測(cè)量范圍，在刻度盤(pán)上0～3mm,
   不過(guò)實(shí)際沖程75NA是約10mm、80NA是約4mm。
   數(shù)字顯示型，沖程就等于測(cè)量范圍。
   測(cè)量范圍，75D是0～約10mm、80D是0～約4mm。
   指針型的3mm以上的測(cè)量，也可以在刻度盤(pán)上自己標(biāo)上刻度來(lái)測(cè)量。